Titre :	Structural and chemical analysis of materials : X-ray,electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	J.P. Eberhart
Editeur :	Chichester : Wiley
Année de publication :	cop. 1991
Importance :	XXVII- 545p.
Présentation :	fig.
Format :	25 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-0-471-92977-2
Note générale :	Bibliogr. Index.
Langues :	Anglais (eng)
Catégories :	Physique
Tags :	Matériau  microscopie  Microstructure
Index. décimale :	530 Physique
Permalink :	https://bu.umc.edu.dz/catalogue/index.php?lvl=notice_display&id=1173

Structural and chemical analysis of materials : X-ray,electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy [texte imprimé] / J.P. Eberhart . - Chichester : Wiley, cop. 1991 . - XXVII- 545p. : fig. ; 25 cm.
ISBN : 978-0-471-92977-2
Bibliogr. Index.
Langues : Anglais (eng)

Catégories :	Physique
Tags :	Matériau  microscopie  Microstructure
Index. décimale :	530 Physique
Permalink :	https://bu.umc.edu.dz/catalogue/index.php?lvl=notice_display&id=1173