Structural and chemical analysis of materials / J.P. Eberhart

Public ISBD Titre : Structural and chemical analysis of materials : X-ray,electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy Type de document : texte imprimé Auteurs : J.P. Eberhart Editeur : Chichester : Wiley Année de publication : cop. 1991 Importance : XXVII- 545p. Présentation : fig. Format : 25 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-471-92977-2 Note générale : Bibliogr. Index. Langues : Anglais (eng) Catégories : Physique Tags : Matériau  microscopie  Microstructure Index. décimale : 530 Physique Permalink : https://bu.umc.edu.dz/catalogue/index.php?lvl=notice_display&id=1173 Structural and chemical analysis of materials : X-ray,electron and neutron diffraction, X-ray, electron and ion spectrometry, electron microscopy [texte imprimé] / J.P. Eberhart . - Chichester : Wiley, cop. 1991 . - XXVII- 545p. : fig. ; 25 cm. ISBN : 978-0-471-92977-2 Bibliogr. Index. Langues : Anglais (eng) Catégories : Physique Tags : Matériau  microscopie  Microstructure Index. décimale : 530 Physique Permalink : https://bu.umc.edu.dz/catalogue/index.php?lvl=notice_display&id=1173

Réservation

Réserver ce document

Exemplaires (1)

Code-barres	Cote	Support	Localisation	Section	Disponibilité
S8/55189	S8/55189	Livre	Bibliothèque principale	indéterminé	Disponible

---

1 (1 - 1 / 1)