Titre :	Particle beam microanalysis : fundamentals, methods and applications
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	E. Fuchs ; H. Oppolzer ; H. Rehme
Editeur :	New York : VCH
Année de publication :	cop.1990
Importance :	XV-507p.
Présentation :	fig., couv.ill.
Format :	24 cm
ISBN/ISSN/EAN :	978-0-89573-505-8
Note générale :	Bibliogr.p.495-497.Indexp.499-507
Langues :	Anglais (eng)
Catégories :	Physique
Tags :	Rayon électronique
Index. décimale :	530 Physique
Permalink :	https://bu.umc.edu.dz/catalogue/index.php?lvl=notice_display&id=1670

Particle beam microanalysis : fundamentals, methods and applications [texte imprimé] / E. Fuchs ; H. Oppolzer ; H. Rehme . - New York : VCH, cop.1990 . - XV-507p. : fig., couv.ill. ; 24 cm.
ISBN : 978-0-89573-505-8
Bibliogr.p.495-497.Indexp.499-507
Langues : Anglais (eng)

Catégories :	Physique
Tags :	Rayon électronique
Index. décimale :	530 Physique
Permalink :	https://bu.umc.edu.dz/catalogue/index.php?lvl=notice_display&id=1670