An Artificial inteligence approach to test generation / Narinder Singh

Public ISBD Titre : An Artificial inteligence approach to test generation Type de document : texte imprimé Auteurs : Narinder Singh Editeur : Boston : Kluwer academic publishers Année de publication : cop.1987 Collection : The Kluwer international series in engineering and computer science Importance : X-193p. Présentation : fig. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-0-89838-185-6 Note générale : Bibliogr.p.189-193 Langues : Anglais (eng) Catégories : Infomatique Tags : Intelligence artificielle  Système expert Index. décimale : 004 Traitement de données. Informatique Permalink : https://bu.umc.edu.dz/catalogue/index.php?lvl=notice_display&id=3481 An Artificial inteligence approach to test generation [texte imprimé] / Narinder Singh . - Boston : Kluwer academic publishers, cop.1987 . - X-193p. : fig. ; 24 cm. - (The Kluwer international series in engineering and computer science) . ISBN : 978-0-89838-185-6 Bibliogr.p.189-193 Langues : Anglais (eng) Catégories : Infomatique Tags : Intelligence artificielle  Système expert Index. décimale : 004 Traitement de données. Informatique Permalink : https://bu.umc.edu.dz/catalogue/index.php?lvl=notice_display&id=3481

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