Defects and properties of semiconductors

Public ISBD Titre : Defects and properties of semiconductors : defects engineering Type de document : texte imprimé Auteurs : J. Chikawa, Éditeur scientifique ; K. Sumino, Éditeur scientifique ; K. Wada, Éditeur scientifique Editeur : Dordrecht : D.Reidel Scientific Publishing Company Année de publication : cop.1987 Collection : Advances in solid state state technology Importance : VI-261p. Présentation : fig. Format : 23 cm ISBN/ISSN/EAN : 978-90-277-2352-9 Note générale : Index Langues : Anglais (eng) Catégories : Art de l’ingénieur Tags : Semiconducteur  défaillance Index. décimale : 620 Art de l'ingénieur et activités connexes Permalink : https://bu.umc.edu.dz/catalogue/index.php?lvl=notice_display&id=73327 Defects and properties of semiconductors : defects engineering [texte imprimé] / J. Chikawa, Éditeur scientifique ; K. Sumino, Éditeur scientifique ; K. Wada, Éditeur scientifique . - Dordrecht : D.Reidel Scientific Publishing Company, cop.1987 . - VI-261p. : fig. ; 23 cm. - (Advances in solid state state technology) . ISBN : 978-90-277-2352-9 Index Langues : Anglais (eng) Catégories : Art de l’ingénieur Tags : Semiconducteur  défaillance Index. décimale : 620 Art de l'ingénieur et activités connexes Permalink : https://bu.umc.edu.dz/catalogue/index.php?lvl=notice_display&id=73327

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