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Auteur M. Berrabah |
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Titre : Déconvolution des profils SIMS obtenus en régime variant Type de document : texte imprimé Auteurs : Farah Hamdi ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; M. Berrabah, Directeur de thèse Année de publication : 2006 Importance : 68 f. Note générale : 01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la B.U.C.
01 CDLangues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais
ElectroniqueTags : SIMS Déconvolution Fonction de résolution (DRF variante) Multideltas dopage Index. décimale : 621 Electronique En ligne : ../theses/electronique/HAM4479.pdf Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=2711 Déconvolution des profils SIMS obtenus en régime variant [texte imprimé] / Farah Hamdi ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; M. Berrabah, Directeur de thèse . - 2006 . - 68 f.
01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la B.U.C.
01 CD
Langues : Français (fre)
Catégories : Français - Anglais
ElectroniqueTags : SIMS Déconvolution Fonction de résolution (DRF variante) Multideltas dopage Index. décimale : 621 Electronique En ligne : ../theses/electronique/HAM4479.pdf Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=2711 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité HAM/4479 HAM/4479 Thèse Bibliothèque principale Thèses Disponible Traitement des analyses par sonde ionique SIMS en régime variant. Applications aux CMOS ultimes / Soraya Gouder
Titre : Traitement des analyses par sonde ionique SIMS en régime variant. Applications aux CMOS ultimes Type de document : texte imprimé Auteurs : Soraya Gouder ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; M. Berrabah, Directeur de thèse Année de publication : 2008 Importance : 64 f. Note générale : 01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la B.U.C. 01 CD Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais
ElectroniqueTags : CMOS Sonde ionique Régime variant Index. décimale : 621 Electronique En ligne : ../theses/electronique/GOU5040.pdf Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=2757 Traitement des analyses par sonde ionique SIMS en régime variant. Applications aux CMOS ultimes [texte imprimé] / Soraya Gouder ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; M. Berrabah, Directeur de thèse . - 2008 . - 64 f.
01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la B.U.C. 01 CD
Langues : Français (fre)
Catégories : Français - Anglais
ElectroniqueTags : CMOS Sonde ionique Régime variant Index. décimale : 621 Electronique En ligne : ../theses/electronique/GOU5040.pdf Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=2757 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité GOU/5040 GOU/5040 Thèse Bibliothèque principale Thèses Disponible
