Modèlisation de défauts dus aux traitements thèrmiques dans les semiconducteurs / Yassine Sayad

Public ISBD Titre : Modèlisation de défauts dus aux traitements thèrmiques dans les semiconducteurs Type de document : texte imprimé Auteurs : Yassine Sayad ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; A. Nouiri, Directeur de thèse Année de publication : 2003 Importance : 72 f. Note générale : 01 Disponible à la salle de rcherche 02 Disponibles au magazin de la bibliothèque centrale Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais Physique Tags : GaAs  Matériaux semiconducteurs  Méthode des moindres carrés  Défauts ponctuels  InSb Index. décimale : 530 Physique Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=3133 Modèlisation de défauts dus aux traitements thèrmiques dans les semiconducteurs [texte imprimé] / Yassine Sayad ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; A. Nouiri, Directeur de thèse . - 2003 . - 72 f. 01 Disponible à la salle de rcherche 02 Disponibles au magazin de la bibliothèque centrale Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais Physique Tags : GaAs  Matériaux semiconducteurs  Méthode des moindres carrés  Défauts ponctuels  InSb Index. décimale : 530 Physique Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=3133

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SAY/3828	SAY/3828	Thèse	Bibliothèque principale	Thèses	Disponible

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