Caractérisation par microscopie à force atomique des couches minces de Si, SiO2 et Cr / malika Chaiaheloudjou 

Public ISBD Titre : Caractérisation par microscopie à force atomique des couches minces de Si, SiO2 et Cr Type de document : texte imprimé Auteurs : malika Chaiaheloudjou, Auteur ; Labbani R., Directeur de thèse Editeur : CONSTANTINE [ALGERIE] : Université Frères Mentouri Constantine Année de publication : 2011 Importance : 62 f. Format : 30 cm. Note générale : Une copie electronique PDF disponible en BUC. Langues : Français (fre) Catégories : Sciences Exactes:Physique Tags : Couches minces Index. décimale : 530 Physique Diplome : Master 2 Permalink : https://bu.umc.edu.dz/master/index.php?lvl=notice_display&id=6345 Caractérisation par microscopie à force atomique des couches minces de Si, SiO2 et Cr [texte imprimé] / malika Chaiaheloudjou, Auteur ; Labbani R., Directeur de thèse . - CONSTANTINE [ALGERIE] : Université Frères Mentouri Constantine, 2011 . - 62 f. ; 30 cm. Une copie electronique PDF disponible en BUC. Langues : Français (fre) Catégories : Sciences Exactes:Physique Tags : Couches minces Index. décimale : 530 Physique Diplome : Master 2 Permalink : https://bu.umc.edu.dz/master/index.php?lvl=notice_display&id=6345

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