Catalogue des Mémoires de master

Titre : |
Développement de procédé chimique de déposition de films D’oxydes ZnO-NiO |
Type de document : |
texte imprimé |
Auteurs : |
Somia Barouk, Auteur ; Taabouche A., Directeur de thèse |
Editeur : |
CONSTANTINE [ALGERIE] : Université Frères Mentouri Constantine |
Année de publication : |
2017 |
Importance : |
59 f. |
Format : |
30 f. |
Note générale : |
une copie electronique PDF disponible en BUC |
Langues : |
Français (fre) |
Catégories : |
Sciences Exactes:Physique
|
Tags : |
Couches minces ZnO NiO DRX transmittance couplage optique |
Index. décimale : |
530 Physique |
Résumé : |
Dans ce travail de master, nous avons préparé des couches minces d’oxydes ZnO et NiO et d’alliages ZnO-NiO par la méthode spray pyrolyse sur des substrats en verre maintenus à 485°C en utilisant différents solvants. Les couches préparées ont été analysées par les techniques de la diffraction X, la spectrométrie UV-visible, les spectroscopies Raman et des lignes noires (m-lines). La structure des couches minces de ZnO est hexagonale de type wurtzite avec une orientation préférentielle suivant l’axe (002). La taille des cristallites, déduite des mesures DRX, varie entre environ 20 et 30 nm. Les films NiO ont une structure cubique et ils sont formés de cristallites de tailles 15-20 nm environ. Les couches étudiées admettent une transmission optique dans le visible de 75-90%. Les bandes optiques interdites, déduites de la transmittance, sont 3.25 eV et 3.95 eV pour ZnO et NiO respectivement. Les mesures de couplage optique montrent que les films ZnO et ZnO-NiO sont monomodes (TE0 et TM0). Ces mesures ont permis de déduire les valeurs respectives des épaisseurs et des indices de réfraction 250 nm et 1,88 pour ZnO, 165 nm et 1,80 pour l’alliage ZnO-NiO. |
Diplome : |
Master 2 |
Permalink : |
https://bu.umc.edu.dz/master/index.php?lvl=notice_display&id=3420 |
Développement de procédé chimique de déposition de films D’oxydes ZnO-NiO [texte imprimé] / Somia Barouk, Auteur ; Taabouche A., Directeur de thèse . - CONSTANTINE [ALGERIE] : Université Frères Mentouri Constantine, 2017 . - 59 f. ; 30 f. une copie electronique PDF disponible en BUC Langues : Français ( fre)
Catégories : |
Sciences Exactes:Physique
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Tags : |
Couches minces ZnO NiO DRX transmittance couplage optique |
Index. décimale : |
530 Physique |
Résumé : |
Dans ce travail de master, nous avons préparé des couches minces d’oxydes ZnO et NiO et d’alliages ZnO-NiO par la méthode spray pyrolyse sur des substrats en verre maintenus à 485°C en utilisant différents solvants. Les couches préparées ont été analysées par les techniques de la diffraction X, la spectrométrie UV-visible, les spectroscopies Raman et des lignes noires (m-lines). La structure des couches minces de ZnO est hexagonale de type wurtzite avec une orientation préférentielle suivant l’axe (002). La taille des cristallites, déduite des mesures DRX, varie entre environ 20 et 30 nm. Les films NiO ont une structure cubique et ils sont formés de cristallites de tailles 15-20 nm environ. Les couches étudiées admettent une transmission optique dans le visible de 75-90%. Les bandes optiques interdites, déduites de la transmittance, sont 3.25 eV et 3.95 eV pour ZnO et NiO respectivement. Les mesures de couplage optique montrent que les films ZnO et ZnO-NiO sont monomodes (TE0 et TM0). Ces mesures ont permis de déduire les valeurs respectives des épaisseurs et des indices de réfraction 250 nm et 1,88 pour ZnO, 165 nm et 1,80 pour l’alliage ZnO-NiO. |
Diplome : |
Master 2 |
Permalink : |
https://bu.umc.edu.dz/master/index.php?lvl=notice_display&id=3420 |
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