Contribution à l'étude des dégradations induites par les rayons X de faible énergie sur la couche de transition interfaciale oxyde-silicium des structures M.O.S.
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| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
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| BOU/61 | BOU/61 | Thèse | Bibliothèque principale | Thèses | Disponible |
