Récristallisation thermiques et conduction électrique de couches minces semiconductrices pour leur application à des structures MOS / Sidi Mohamed Ould Ahmed

Public ISBD Titre : Récristallisation thermiques et conduction électrique de couches minces semiconductrices pour leur application à des structures MOS Type de document : texte imprimé Auteurs : Sidi Mohamed Ould Ahmed ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; F. Mansour, Directeur de thèse Année de publication : 2001 Importance : 87 f. Note générale : 1 Disponible à la salle de recherche 2 Disponibles au magasin de la bibliothèque centrale Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais Physique Tags : Silicium polycristallin  Cristallisation  Recuit thermique  Propriétés électroniques Index. décimale : 530 Physique Permalink : https://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=2983 Récristallisation thermiques et conduction électrique de couches minces semiconductrices pour leur application à des structures MOS [texte imprimé] / Sidi Mohamed Ould Ahmed ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; F. Mansour, Directeur de thèse . - 2001 . - 87 f. 1 Disponible à la salle de recherche 2 Disponibles au magasin de la bibliothèque centrale Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais Physique Tags : Silicium polycristallin  Cristallisation  Recuit thermique  Propriétés électroniques Index. décimale : 530 Physique Permalink : https://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=2983

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OUL/3503	OUL/3503	Thèse	Bibliothèque principale	Thèses	Disponible

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