Siliciuration de couches minces NiCo déposées sur un substrat de silicium / Nafaa Benzaid 

Public ISBD Titre : Siliciuration de couches minces NiCo déposées sur un substrat de silicium Type de document : texte imprimé Auteurs : Nafaa Benzaid, Auteur ; Aouati R., Directeur de thèse Editeur : CONSTANTINE [ALGERIE] : Université Frères Mentouri Constantine Année de publication : 2017 Importance : 40 f. Format : 30 cm. Note générale : Une copie electronique PDF disponible en BUC Langues : Français (fre) Catégories : Sciences Exactes:Physique Tags : Siliciures  cobalt  nickel  DRX  résistivité électrique Index. décimale : 530 Physique Résumé : Le but de ce travail est d’étudier la formation des siliciures par réaction à l’état solide dans le système Co0.75Ni0.25/Si(100). On a commencé ce travail-là, par la préparation des échantillons par la méthode d’évaporation thermique sous vide, en évaporant l’alliage Co0.75Ni0.25 sur un substrat de silicium monocristallin d’orientation (100). Après le dépôt, on a effectué un traitement thermique sous vide des échantillons dans un four classique pour des températures variant de 300 à 900 °C afin de remarquer les différents phénomènes de formation et de croissance de siliciures. Pour la caractérisation de nos échantillons, on a utilisé principalement la Diffraction des Rayons X (DRX), la méthode des quatre pointes pour les mesures de la résistivité électrique. Ces méthodes de caractérisation nous ont permis de remarquer les différents siliciures qui apparaissent pour chaque gamme de températures. D’ailleurs, on a constaté l’effet de nickel sur la formation des siliciures de cobalt en se basant sur l’absence de siliciures pour les températures de 300 jusqu’à 400 °C où on a pu remarquer l’apparition du premier siliciure qui est le siliciure riche en cobalt Co2Si. C’est le même résultat pour 500°C. Pour 600 °C, le Co2Si s’est transformé en mono-siliciure CoSi. A 700 °C, c’est le même résultat que 600°C, jusqu’à 800 °C où le di-siliciure CoSi2 est apparaît. A 900 °C, le reste du mono-siliciure CoSi se transforme en di-siliciure CoSi2. Les mesures de la résistivité par la méthode de quatre pointes ont été en bon accord avec les résultats de DRX. Diplome : Master 2 Permalink : https://bu.umc.edu.dz/master/index.php?lvl=notice_display&id=3565 Siliciuration de couches minces NiCo déposées sur un substrat de silicium [texte imprimé] / Nafaa Benzaid, Auteur ; Aouati R., Directeur de thèse . - CONSTANTINE [ALGERIE] : Université Frères Mentouri Constantine, 2017 . - 40 f. ; 30 cm. Une copie electronique PDF disponible en BUC Langues : Français (fre) Catégories : Sciences Exactes:Physique Tags : Siliciures  cobalt  nickel  DRX  résistivité électrique Index. décimale : 530 Physique Résumé : Le but de ce travail est d’étudier la formation des siliciures par réaction à l’état solide dans le système Co0.75Ni0.25/Si(100). On a commencé ce travail-là, par la préparation des échantillons par la méthode d’évaporation thermique sous vide, en évaporant l’alliage Co0.75Ni0.25 sur un substrat de silicium monocristallin d’orientation (100). Après le dépôt, on a effectué un traitement thermique sous vide des échantillons dans un four classique pour des températures variant de 300 à 900 °C afin de remarquer les différents phénomènes de formation et de croissance de siliciures. Pour la caractérisation de nos échantillons, on a utilisé principalement la Diffraction des Rayons X (DRX), la méthode des quatre pointes pour les mesures de la résistivité électrique. Ces méthodes de caractérisation nous ont permis de remarquer les différents siliciures qui apparaissent pour chaque gamme de températures. D’ailleurs, on a constaté l’effet de nickel sur la formation des siliciures de cobalt en se basant sur l’absence de siliciures pour les températures de 300 jusqu’à 400 °C où on a pu remarquer l’apparition du premier siliciure qui est le siliciure riche en cobalt Co2Si. C’est le même résultat pour 500°C. Pour 600 °C, le Co2Si s’est transformé en mono-siliciure CoSi. A 700 °C, c’est le même résultat que 600°C, jusqu’à 800 °C où le di-siliciure CoSi2 est apparaît. A 900 °C, le reste du mono-siliciure CoSi se transforme en di-siliciure CoSi2. Les mesures de la résistivité par la méthode de quatre pointes ont été en bon accord avec les résultats de DRX. Diplome : Master 2 Permalink : https://bu.umc.edu.dz/master/index.php?lvl=notice_display&id=3565

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