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Affiner la recherche Interroger des sources externesEtude des parametres physiques qui gouvernent la resolution en profondeur en microsonde ionique / Djallel Mahdi
Titre : Etude des parametres physiques qui gouvernent la resolution en profondeur en microsonde ionique Type de document : texte imprimé Auteurs : Djallel Mahdi, Auteur ; Abdelhafid Chaabi, Directeur de thèse Editeur : constantine [Algérie] : Université Constantine 1 Année de publication : 2013 Importance : 76 f. Format : 30 cm. Note générale : 2 copies imprimées disponibles Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais
ElectroniqueTags : SIMS mixage collisionnel parcours moyen projeté resolution en profoneur collisional mixing mean projected range depth resolution محلل الطيف الكتلي للايونات الثانوية الخلط التصادمي مسقط المسار الوسطي التحليل العمقي Index. décimale : 621 Electronique Résumé :
The physical events results during SIMS analysis produced by the bombardment of the ions on the medium disturb its original constitution; the essential event was the collisional mixing. This work consists in finding the physical parameters associated to the transport of ions in amorphous monoatomic solid bombarded with normally incident at different high dose irradiation. The theoretical formulation is based on linear Boltzman transport equation of ions. This theory allowed to describe these physical parameters in the presence of the collisional mixing, these parameters control the in-depth resolution.
Indeed, this work shows the evolution of the in-depth resolution with various input experimental parameters (ion beam nature, energy, dose and the target nature) for got good working conditions of optimized analysis, so to lead a better in-depth resolution.Diplôme : Doctorat en sciences En ligne : ../theses/electronique/MAH6460.pdf Format de la ressource électronique : Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=9507 Etude des parametres physiques qui gouvernent la resolution en profondeur en microsonde ionique [texte imprimé] / Djallel Mahdi, Auteur ; Abdelhafid Chaabi, Directeur de thèse . - constantine [Algérie] : Université Constantine 1, 2013 . - 76 f. ; 30 cm.
2 copies imprimées disponibles
Langues : Français (fre)
Catégories : Français - Anglais
ElectroniqueTags : SIMS mixage collisionnel parcours moyen projeté resolution en profoneur collisional mixing mean projected range depth resolution محلل الطيف الكتلي للايونات الثانوية الخلط التصادمي مسقط المسار الوسطي التحليل العمقي Index. décimale : 621 Electronique Résumé :
The physical events results during SIMS analysis produced by the bombardment of the ions on the medium disturb its original constitution; the essential event was the collisional mixing. This work consists in finding the physical parameters associated to the transport of ions in amorphous monoatomic solid bombarded with normally incident at different high dose irradiation. The theoretical formulation is based on linear Boltzman transport equation of ions. This theory allowed to describe these physical parameters in the presence of the collisional mixing, these parameters control the in-depth resolution.
Indeed, this work shows the evolution of the in-depth resolution with various input experimental parameters (ion beam nature, energy, dose and the target nature) for got good working conditions of optimized analysis, so to lead a better in-depth resolution.Diplôme : Doctorat en sciences En ligne : ../theses/electronique/MAH6460.pdf Format de la ressource électronique : Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=9507 Exemplaires (1)
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