Titre :	Elaboration et étude par microscopie électronique à transmission en coupes transversales de l'influence des traitements thermiques sur les interfaces Cr/Si et le silicium amorphe en couches minces
Type de document :	texte imprimé
Auteurs :	Kamel Mirouh ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; A. Bouabellou, Directeur de thèse
Année de publication :	2001
Importance :	100 f.
Note générale :	01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magasin de la bibliothèque centrale
Langues :	Français (fre)
Catégories :	Français - Anglais Physique
Tags :	Interface  Réaction  Diffusion  Couches minces  Silicium amorphe  MET  Carbure de silicium  Coupes transversales  Siliciums de chrome  Recuit laser
Index. décimale :	530 Physique
Permalink :	index.php?lvl=notice_display&id=3058

Elaboration et étude par microscopie électronique à transmission en coupes transversales de l'influence des traitements thermiques sur les interfaces Cr/Si et le silicium amorphe en couches minces [texte imprimé] / Kamel Mirouh ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; A. Bouabellou, Directeur de thèse . - 2001 . - 100 f.
01 Disponible à la salle de recherche
02 Disponibles au magasin de la bibliothèque centrale
Langues : Français (fre)

Catégories :	Français - Anglais Physique
Tags :	Interface  Réaction  Diffusion  Couches minces  Silicium amorphe  MET  Carbure de silicium  Coupes transversales  Siliciums de chrome  Recuit laser
Index. décimale :	530 Physique
Permalink :	index.php?lvl=notice_display&id=3058