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Auteur K. Mirouh |
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Affiner la recherche Interroger des sources externesCaractérisation des couches minces du silicium amorphe hydrogéné cristalisées par le laser excimère KrF / Nassima Bouteffah (Née Bouhdjar)
Titre : Caractérisation des couches minces du silicium amorphe hydrogéné cristalisées par le laser excimère KrF Type de document : texte imprimé Auteurs : Nassima Bouteffah (Née Bouhdjar) ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; K. Mirouh, Directeur de thèse Année de publication : 2005 Importance : 72 f. Note générale : 01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la bibliothèque centrale Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais
PhysiqueTags : Couches minces LPCVD PECVD Silicium amorphe hydrogéné Diffraction X Spectroscopie Raman Spectroscopie infrarouge APCVD Laser excimère Phases métastables Index. décimale : 530 Physique Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=3337 Caractérisation des couches minces du silicium amorphe hydrogéné cristalisées par le laser excimère KrF [texte imprimé] / Nassima Bouteffah (Née Bouhdjar) ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; K. Mirouh, Directeur de thèse . - 2005 . - 72 f.
01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la bibliothèque centrale
Langues : Français (fre)
Catégories : Français - Anglais
PhysiqueTags : Couches minces LPCVD PECVD Silicium amorphe hydrogéné Diffraction X Spectroscopie Raman Spectroscopie infrarouge APCVD Laser excimère Phases métastables Index. décimale : 530 Physique Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=3337 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité BOU/4262 BOU/4262 Thèse Bibliothèque principale Thèses Disponible
Titre : Etude des transformations microstructurales dans le silicium Type de document : texte imprimé Auteurs : Sihem Touil, Auteur ; K. Mirouh, Directeur de thèse Editeur : Constantine : Université Mentouri Constantine Année de publication : 2012 Importance : 69 f. Format : 31 cm. Note générale : Magister
2 copies imprimées disponiblesLangues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais
PhysiqueTags : Silicium monocristallin Micro-indentation Transformations de phase DRX MEB Microscopie optique Dureté Ténacité Index. décimale : 530 Physique En ligne : ../theses/physique/TOU6272.pdf Format de la ressource électronique : Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=6232 Etude des transformations microstructurales dans le silicium [texte imprimé] / Sihem Touil, Auteur ; K. Mirouh, Directeur de thèse . - Constantine : Université Mentouri Constantine, 2012 . - 69 f. ; 31 cm.
Magister
2 copies imprimées disponibles
Langues : Français (fre)
Catégories : Français - Anglais
PhysiqueTags : Silicium monocristallin Micro-indentation Transformations de phase DRX MEB Microscopie optique Dureté Ténacité Index. décimale : 530 Physique En ligne : ../theses/physique/TOU6272.pdf Format de la ressource électronique : Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=6232 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité TOU/6272 TOU/6272 Thèse Bibliothèque principale Thèses Disponible
Titre : Etude des transformations de phase dans le silicium Type de document : texte imprimé Auteurs : Asma Touil ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; K. Mirouh, Directeur de thèse Année de publication : 2007 Importance : 81 f. Note générale : 01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la B.U.C. 01 CD Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais
PhysiqueTags : Transformation de phase diffraction des rayons X Couches minces de silicium amorphe Microindentation Microspectroscopie Raman Microscopie optique Index. décimale : 530 Physique En ligne : ../theses/physique/TOU4971.pdf Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=3533 Etude des transformations de phase dans le silicium [texte imprimé] / Asma Touil ; Univ. de Constantine, Éditeur scientifique ; K. Mirouh, Directeur de thèse . - 2007 . - 81 f.
01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la B.U.C. 01 CD
Langues : Français (fre)
Catégories : Français - Anglais
PhysiqueTags : Transformation de phase diffraction des rayons X Couches minces de silicium amorphe Microindentation Microspectroscopie Raman Microscopie optique Index. décimale : 530 Physique En ligne : ../theses/physique/TOU4971.pdf Permalink : index.php?lvl=notice_display&id=3533 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité TOU/4971 TOU/4971 Thèse Bibliothèque principale Thèses Disponible
