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Partager le résultat de cette recherche Interroger des sources externeseffet du dopage par le sodium sur les propriétés structurales et supraconductrices de composés Bi1.6Pb0.4Sr2CaCu2O (8+Delta) / Karima Belala
Titre : effet du dopage par le sodium sur les propriétés structurales et supraconductrices de composés Bi1.6Pb0.4Sr2CaCu2O (8+Delta) Type de document : texte imprimé Auteurs : Karima Belala ; Université Mentouri, Editeur scientifique ; M.F. Mosbah, Directeur de thèse Année de publication : 2008 Importance : 93 f. Note générale : 01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la B.U.C. 01 CD Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais
PhysiqueTags : Dopage Propriétés structurales Sodium Propriétés supraconductrices Index. décimale : 530 Physique En ligne : ../theses/physique/BEL5059.pdf Permalink : https://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=3483 effet du dopage par le sodium sur les propriétés structurales et supraconductrices de composés Bi1.6Pb0.4Sr2CaCu2O (8+Delta) [texte imprimé] / Karima Belala ; Université Mentouri, Editeur scientifique ; M.F. Mosbah, Directeur de thèse . - 2008 . - 93 f.
01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la B.U.C. 01 CD
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PhysiqueTags : Dopage Propriétés structurales Sodium Propriétés supraconductrices Index. décimale : 530 Physique En ligne : ../theses/physique/BEL5059.pdf Permalink : https://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=3483 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité BEL/5059 BEL/5059 Thèse Bibliothèque principale Thèses Disponible
Titre : Effet des modes de préparation sur les propriétés électriques et structurales de la structure PbS/Si Type de document : texte imprimé Auteurs : Ouahiba Halimi ; Université Mentouri, Editeur scientifique ; S. Achour, Directeur de thèse Année de publication : 1994 Importance : 102 f. Note générale : 01 Disponible à la salle de recherche 01 Disponible au magazin de la B.U.C. Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais
PhysiqueTags : Propriétés électriques Propriétés structurales Structure PbS/Si Index. décimale : 530 Physique Permalink : https://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=3368 Effet des modes de préparation sur les propriétés électriques et structurales de la structure PbS/Si [texte imprimé] / Ouahiba Halimi ; Université Mentouri, Editeur scientifique ; S. Achour, Directeur de thèse . - 1994 . - 102 f.
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PhysiqueTags : Propriétés électriques Propriétés structurales Structure PbS/Si Index. décimale : 530 Physique Permalink : https://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=3368 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité HAL/2577 HAL/2577 Thèse Bibliothèque principale Thèses Disponible
Titre : Etude des propriétés optiques et structurales de nanoparticules de ZnS et PbS induites par radiolyse Type de document : texte imprimé Auteurs : Abdelhafid Souici ; Université Mentouri, Editeur scientifique ; Nassira Keghouche, Directeur de thèse Année de publication : 2009 Importance : 149 f. Note générale : 01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la B.U.C. 01 CD Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais
PhysiqueTags : Propriétés optiques Propriétés structurales Nanoparticules semiconductrices Radioltse Index. décimale : 530 Physique En ligne : ../theses/physique/SOU5480.pdf Permalink : https://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=3425 Etude des propriétés optiques et structurales de nanoparticules de ZnS et PbS induites par radiolyse [texte imprimé] / Abdelhafid Souici ; Université Mentouri, Editeur scientifique ; Nassira Keghouche, Directeur de thèse . - 2009 . - 149 f.
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PhysiqueTags : Propriétés optiques Propriétés structurales Nanoparticules semiconductrices Radioltse Index. décimale : 530 Physique En ligne : ../theses/physique/SOU5480.pdf Permalink : https://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=3425 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité SOU/5480 SOU/5480 Thèse Bibliothèque principale Thèses Disponible
Titre : Etude structurale par diffraction X et optique linéaire de composites à base de nanocristaux semi-conducteurs (CdSe, ZnSe) dispérsés dans des matrices h?tes organiques (PMMA) et minérale (KBr, KCL) Type de document : texte imprimé Auteurs : Abderrahmane Chaieb ; Université Mentouri, Editeur scientifique ; Miloid Sebais, Directeur de thèse Année de publication : 2009 Importance : 147 f. Note générale : 01 Disponible à la salle de recherche 01 Disponible au magazin de la B.U.C. 01 CD Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais
PhysiqueTags : Propriétés structurales Nanocomposites CdSe/KBr ,CdSe/KCl, CdSe/PMMA , ZnSe/PMMA Propriétés optiques linéaires et non linéaires Index. décimale : 530 Physique En ligne : ../theses/physique/CHA5536.pdf Permalink : https://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=3434 Etude structurale par diffraction X et optique linéaire de composites à base de nanocristaux semi-conducteurs (CdSe, ZnSe) dispérsés dans des matrices h?tes organiques (PMMA) et minérale (KBr, KCL) [texte imprimé] / Abderrahmane Chaieb ; Université Mentouri, Editeur scientifique ; Miloid Sebais, Directeur de thèse . - 2009 . - 147 f.
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PhysiqueTags : Propriétés structurales Nanocomposites CdSe/KBr ,CdSe/KCl, CdSe/PMMA , ZnSe/PMMA Propriétés optiques linéaires et non linéaires Index. décimale : 530 Physique En ligne : ../theses/physique/CHA5536.pdf Permalink : https://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=3434 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité CHA/5536 CHA/5536 Thèse Bibliothèque principale Thèses Disponible
Titre : Caractérisations des réactions interfaciales dans les couches minces métalliques binaires et multiples Type de document : texte imprimé Auteurs : Farida Kezai (Née Medjani) ; Université Mentouri, Editeur scientifique ; Rachid Halimi, Directeur de thèse Année de publication : 2007 Importance : 89 f. Note générale : 01 Disponible à la salle de recherche 02 Disponibles au magazin de la B.U.C. 01 CD Langues : Français (fre) Catégories : Français - Anglais
PhysiqueTags : Pulvérisation Morphologie Multicouches TiN/AlN Nanocomposite Propriétés structurales Résistivité électrique Nanodureté Sputtering Multilayers TiN/AlN Zr-Si-N Structural proprieties Morphology Electrical resistivity Nanohardness Index. décimale : 530 Physique Résumé : DC reactive magnetron co-sputtering was used for the deposition of Zr-Si-N thin films and a multilayers TiN/AlN.
Si content (CSi) was varied by changing the power applied on the Si target, whereas that on Zr target was kept constant. Four series of samples have been deposited at various substrate temperatures: room temperature, 240 °C, 440 °C and 640 °C. The evolution of morphology,
crystalline structure, grain size and lattice constant has been investigated by X-ray diffraction analyses. Nanohardness, stress and resistivity measurements provide complementary information, which validate the proposed 3-step model for the film formation of the Zr-Si-N system deposited by reactive magnetron cosputtering. For low Si content the Si atoms substitute the Zr atoms in the ZrN lattice. Above the solubility limit, a nanocomposite film containing ZrN:Si nanocrystallites and amorphous SiNy is formed. Further increase of Si content results in a reduction of grain size (D), while the thickness of the SiNy layer at the crystallite surface remains constant. The increasing amount of the SiNy amorphous phase in the films is realized by increasing the surface to volume ratio of the crystallites. In this concentration range, the size of the crystallites in the Zr-Si-N films decreases according to the relationship CSi ~1/D. With
increasing the substrate temperature, the solubility limit of Si in ZrN decreases whereas the films’ global nitruration (CN /(CSi + CZr)) increases. The concentration dependence of the electrical resistivity is interpreted in terms of the variation of the SiNy layer thickness.
By controlling the thickness of individual layers (1-50 nm) and substrate bias (Vb = -25 V and V b = - 100V) two series of samples were prepared. The films were characterized using X-ray diffraction (DRX), cross-sectional electron microscopy (MET) and nanoindentation. The
measured hardness of multilayer films were found to be always higher than the rule of the mixture, but the magnitude of hardness enhancement was found to be dependent on the bilayer thickness and bias substrate. Decreasing progressively the layer thickness favors the alignment of
(0002) basal plan of w-AlN on (111) plane of TiN, and results in the development of strong (111) texture, prerequisite for stabilization of c-AlN and formation of epitaxial coherent structures.Diplôme : Doctorat En ligne : ../theses/physique/KEZ5008.pdf Permalink : https://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=3347 Caractérisations des réactions interfaciales dans les couches minces métalliques binaires et multiples [texte imprimé] / Farida Kezai (Née Medjani) ; Université Mentouri, Editeur scientifique ; Rachid Halimi, Directeur de thèse . - 2007 . - 89 f.
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PhysiqueTags : Pulvérisation Morphologie Multicouches TiN/AlN Nanocomposite Propriétés structurales Résistivité électrique Nanodureté Sputtering Multilayers TiN/AlN Zr-Si-N Structural proprieties Morphology Electrical resistivity Nanohardness Index. décimale : 530 Physique Résumé : DC reactive magnetron co-sputtering was used for the deposition of Zr-Si-N thin films and a multilayers TiN/AlN.
Si content (CSi) was varied by changing the power applied on the Si target, whereas that on Zr target was kept constant. Four series of samples have been deposited at various substrate temperatures: room temperature, 240 °C, 440 °C and 640 °C. The evolution of morphology,
crystalline structure, grain size and lattice constant has been investigated by X-ray diffraction analyses. Nanohardness, stress and resistivity measurements provide complementary information, which validate the proposed 3-step model for the film formation of the Zr-Si-N system deposited by reactive magnetron cosputtering. For low Si content the Si atoms substitute the Zr atoms in the ZrN lattice. Above the solubility limit, a nanocomposite film containing ZrN:Si nanocrystallites and amorphous SiNy is formed. Further increase of Si content results in a reduction of grain size (D), while the thickness of the SiNy layer at the crystallite surface remains constant. The increasing amount of the SiNy amorphous phase in the films is realized by increasing the surface to volume ratio of the crystallites. In this concentration range, the size of the crystallites in the Zr-Si-N films decreases according to the relationship CSi ~1/D. With
increasing the substrate temperature, the solubility limit of Si in ZrN decreases whereas the films’ global nitruration (CN /(CSi + CZr)) increases. The concentration dependence of the electrical resistivity is interpreted in terms of the variation of the SiNy layer thickness.
By controlling the thickness of individual layers (1-50 nm) and substrate bias (Vb = -25 V and V b = - 100V) two series of samples were prepared. The films were characterized using X-ray diffraction (DRX), cross-sectional electron microscopy (MET) and nanoindentation. The
measured hardness of multilayer films were found to be always higher than the rule of the mixture, but the magnitude of hardness enhancement was found to be dependent on the bilayer thickness and bias substrate. Decreasing progressively the layer thickness favors the alignment of
(0002) basal plan of w-AlN on (111) plane of TiN, and results in the development of strong (111) texture, prerequisite for stabilization of c-AlN and formation of epitaxial coherent structures.Diplôme : Doctorat En ligne : ../theses/physique/KEZ5008.pdf Permalink : https://bu.umc.edu.dz/md/index.php?lvl=notice_display&id=3347 Exemplaires (1)
Code-barres Cote Support Localisation Section Disponibilité KEZ/5008 KEZ/5008 Thèse Bibliothèque principale Thèses Disponible
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